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seagate希捷硬盤Building Self Test(自校準)  Self Test 是真正的low level format 具有良好維修效果. 邊做磁訊號效果測試 邊做servo pattern 寫入 是工廠標準生產流程也是RMA必跑測試 像Seagte 是設計專用機臺以TTL 連接硬碟通訊 限于智財權,東歐Hacker 想盡辦法去做協定分析. 找出低階通訊協定,再自行以軟硬體去包裝 使用昂貴 PC3000 UDMA 啟動方法: 先從其他同系列 +同主控晶片組 硬碟備份LDR 從這開始 1.進入安全模式 如果是用 非UDMA 內建可切換電源 需要自己手動硬碟斷電 通電  2.切換Bandrate 速度為921000 最高  Self Writing 啟動方式 1.選這加載LDR :選Starting LDR  以安全模式加載 LDR 請參考圖  如果是用 非UDMA 內建可切換電源 需要自己手動硬碟斷電 通電1~2次 如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop) CERT 可以另存 module 改掉 后 , 再額外指定 指令E4E 檢查已做好的self Test 流程跟時間 (Exam 4E) 指令T4E 檢驗預定做的Self Test流程 1.終端下輸入ctrl-z 把速度改回9600 bps 再輸入 #,,22 (改序號 ) 按下Enter 前三碼跟磁頭有關 不可亂輸入 如果磁頭沒變化就一樣 (9QF12345) 再任意輸入PW 五位數(12345 ok) 2.N2,,22 (2代表從第2步開始做 ,,22 是確定執(zhí)行) , (所以 N94,,22 是 從 94 開始) 3. 再按下 ctrl -t執(zhí)行 . 可以看到目前流程 : 可看age 硬碟AGE 說明 代表目前硬碟狀況 硬盤安裝和伺服校正測試 TEST 01 - 製造臨時日志 TEST 02 - 格式化和測試錯誤日志 磁頭和電路校正測試 TEST 03 - 伺服校正信息 TEST 04 - 斜波加載/卸載測試 TEST 05 - 傳感器滯后測試 TEST 06 - 磁頭切換測試 TEST 07 - RUNOUT補償測試 TEST 08 - 當檢查伺服錯誤時盤上寫入2T類型 TEST 09 - 磁頭低飛顯示 TEST 0A - 磁頭穩(wěn)定性測試 TEST 0C - 讀取伺服缺陷測試位置 TEST 0D - 重學RRO ZAP測試 TEST 0E - 尋找跳過柱面測試（還未實現過） TEST 0F - 當前寫測試 磁頭和電路校正測試 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 適配區(qū)域#（最后區(qū)域）通過 0 -所有磁頭 TEST 1F - 顯示適配性，VCO，和DIODE溫度設置 TEST 2F - 顯示FIR適應性設置 伺服性能驗證測試 TEST 20, TEST 60 - 伺服訪問次數 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 測試 TEST 23 - 開始/停止 （10次） TEST 24 - 開始/停止 （2000次） TEST 29 - 伺服缺陷掃瞄 缺陷查找和再分配測試 TEST 30 - 驗證所有磁盤組讀取，AT級 TEST 31 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 0-1無讀取級，50寫級 TEST 32 - 楔形缺陷掃瞄. 磁頭 2-3無讀取級，50寫級 TEST 36 - 在對磁頭0-1楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位 TEST 37 - 在對磁頭2-3楔形掃瞄中查找出來的缺陷進行定位 TEST 3A - 使用1重複讀取所有磁頭拋光和缺陷測試，重複50次 TEST 3B - 建立缺陷表；填充受損磁頭0，1 TEST 3C - 建立缺陷表；填充受損磁頭2，3 TEST 3D - 建立缺陷表；填充受損磁頭4，5 TEST 3E - 建立缺陷表；填充受損磁頭6，7 TEST 3F - 回送測試，寫通過測試 錯誤率性能測試 TEST 40- 開始/停止（10次） TEST 41- 磁道侵入 TEST 42- SPIN STAND模擬器- 區(qū)域較小錯誤碧綠 TEST 43- RAM 測試 TEST 46- 數據編譯比率 TEST 47- 冷寫/磁道擦除顯示 TEST 48- 錯誤率，寫通過 TEST 49- 寫/讀/比較（零式樣） TEST 4A- 補償系數檢測 TEST 4B- 讀 TEST 4B -所有磁道冷寫顯示 TEST 4C- 磁頭飛行高度測量 TEST 4D- 收集自動FA數據 TEST 4E- 檢查積累健康和創(chuàng)建自檢概要 TEST 4F- 失敗磁盤測試 TEST 50- 通過磁盤測試 |
